Almasi, G., Almasi, G. S., Beece, D., Bellofatto, R.,
Bhanot, G., Bickford, R., Blumrich, M., Bright, A. A., Brunheroto, J., Cascaval, C., Castaños, J., Ceze, L., Coteus, P., Chatterjee, S., Chen, D., Chiu, G., Cipolla, T. M., Crumley, P., Deutsch, A., Dombrowa, M. B.,
& 44 othersDonath, W., Eleftheriou, M., Fitch, B., Gagliano, J., Gara, A., Germain, R., Giampapa, M. E., Gupta, M., Gustavson, F., Hall, S., Haring, R. A., Heidel, D., Heidelberger, P., Herger, L. M., Hoenicke, D., Jackson, R. D., Jamal-Eddine, T., Kopcsay, G. V., Lanzetta, A. P., Lieber, D., Lu, M., Mendell, M., Mok, L., Moreira, J., Nathanson, B. J., Newton, M., Ohmacht, M., Rand, R., Regan, R., Sahoo, R., Sanomiya, A., Schenfeld, E., Singh, S., Song, P., Steinmacher-Burow, B. D., Strauss, K., Swetz, R., Takken, T., Vranas, P., Ward, T. J. C., Brown, J., Liebsch, T., Schram, A. & Ulsh, G.,
2002,
In: Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference. p. 196-197+195Research output: Contribution to journal › Conference article › peer-review