Performance of 500 μm thick silicon microstrip detectors after irradiation

W. Adam, E. Berdermann, P. Bergonzo, G. Bertuccio, F. Bogani, E. Borchi, A. Brambilla, M. Bruzzi, C. Colledani, J. Conway, P. D'Angelo, W. Dabrowski, P. Delpierre, A. Deneuville, W. Dulinski, B. Van Eijk, A. Fallou, F. Fizzotti, F. Foulon, M. FriedlK. K. Gan, E. Gheeraert, G. Hallewell, S. Han, F. Hartjes, J. Hrubec, D. Husson, H. Kagan, D. Kania, J. Kaplon, R. Kass, T. Koeth, M. Krammer, A. Logiudice, R. Lu, L. Mac Lynne, C. Manfredotti, D. Meier, M. Mishina, L. Moroni, J. Noomen, A. Oh, L. S. Pan, M. Pernicka, A. Peitz, L. Perera, S. Pirollo, M. Procario, J. L. Riester, S. Roe, L. Rousseau, A. Rudge, J. Russ, S. Sala, M. Sampietro, S. Schnetzer, S. Sciortino, H. Stelzer, R. Stone, B. Suter, R. J. Tapper, R. Tesarek, W. Trischuk, D. Tromson, E. Vittone, A. M. Walsh, R. Wedenig, P. Weilhammer, M. Wetstein, C. White, W. Zeuner, M. Zoeller, R. Plano, S. V. Somalwar, G. B. ThomsonShow 55 othersShow less